多樣品納米粒子徑測試系統·nanoSAQLA

產品簡介
nanoSAQLA是一臺通過動態光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內的多檢體測定的新光學系統，實現了實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高速測定。另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標準配備“5檢體連續測量"的新產品。

產品型號：

更新時間：2026-03-31

廠商性質：生產廠家

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

特長

● 1臺便可實再5個樣品的連續測量

實現了在沒有自動取樣器的情況下難以連續測量的多個樣品

可以改變每個樣品的條件進行測量

● 可以對應從稀薄到濃厚的樣品

● 標準測量時間1分的高度測量

自動調整從濃厚系到稀薄系樣品的最佳測量位置，實現約1分鐘的高速測量

● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)

沒有任何復雜的操作，簡單易懂的軟件

● 因為每個樣品槽都是獨立的，沒有接觸污染的風險。

● 搭載溫度梯度功能

● 粒徑0.6nm～10μm

● 濃度范圍 0.00001～40％

● 溫度范圍0～90℃^*

型號	多檢體納米粒徑測量系統
測量原理	動態光散射法（光子相關法）
光源	高功率半導體激光（660nm、70mW） ^*1
檢出器	高感度APD
連續測量	最多5個樣品
測量范圍	0.6nm ～ 10μm
濃度范圍	0.00001 ～ 40% ^*2
溫度范圍	0 ～ 90℃ （具備溫度梯度功能） ^*3
樣品容量	四面透光比色皿：1.2mL～、微量比色皿：20μL～
尺寸	W240 X D480 X H375 mm
電壓	220V 50/60Hz、250VA
重量	約18 kg
軟件	平均粒徑解析（累積法解析）
	粒徑分布解析
	（Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法）
	粒度分布重疊
	逆相關數殘差Plot
	粒徑監測
	粒徑表示范圍（0.1 ～ 10⁶ nm）
	分子量計算機能
	21 CFR Part11對應^*4
選配	微量樣品池（20μLから対応）、熒光濾光片