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產(chǎn)品中心半導體材料測試橢偏拉曼AFM原子力顯微鏡
產(chǎn)品簡介
原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設備，可靈活配置和測試，具備優(yōu)異測試穩(wěn)定性和可靠性。
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Surface topography 表面形貌
Electrical properties 電學性質
Chemical properties 化學性質
Magnetically properties 磁學性質
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