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產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚
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●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍 ●具有紫外線自吸收校正的高精度測量 ●配備溫度控制單元，可從-110°C進(jìn)行溫度控制 ●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 ●電源、溫控單元、測量儀軟件批量控制
更新時(shí)間：2026-03-31
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：872
采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
更新時(shí)間：2026-03-31產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：900
采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
更新時(shí)間：2026-03-31產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：832
●可在紫外和可見（250至800nm）波長區(qū)域中測量橢圓參數(shù) ●可分析納米級(jí)多層薄膜的厚度 ●可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜 ●通過可變反射角測量，可詳細(xì)分析薄膜 ●通過創(chuàng)建光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫和追加菜單注冊(cè)功能，增強(qiáng)操作便利性 ●通過層膜貼合分析的光學(xué)常數(shù)測量可控制膜厚度/膜質(zhì)量
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●可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測量 ●測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn) ●采用新的探測器，可以進(jìn)行廣動(dòng)態(tài)范圍的測量 ●測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從φ250毫米到φ3000毫米都能對(duì)應(yīng) ●支持LIV測量，脈沖點(diǎn)測量，樣品溫度測量 ●兼容脈沖寬度調(diào)制（PWM）調(diào)光
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以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對(duì)應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
更新時(shí)間：2026-03-31產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1151公司郵箱： qgao@buybm.com
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